5º Congresso Internacional de Rastreabilidade em Medições Laboratoriais e Cadeias Produtivas (Metrochem)
São Paulo
11 a 13 de novembro
“Rastreabilidade metrológica para medições em laboratórios com ênfase em padrões” e “Rastreabilidade de cadeias produtivas, com destaque para as áreas alimentar, química, pesqueira e produtos florestais em tópicos relacionados com as diretivas europeias” serão os temas centrais do congresso.
A abertura do congresso contará com Nilson Dias Vieira Junior, do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares, Pedro Bombonato, da Coordenadoria de Ciência, Tecnologia e Inovação, e Guilherme Ary Plonski, da Faculdade de Economia e Administração da Universidade de São Paulo e da Associação Nacional de Entidades Promotoras de Empreendimentos Inovadores.
Entre os palestrantes estarão Willie E. May, do Instituto Nacional de Padrões e Tecnologia dos Estados Unidos, Ilya Kuselman, do Laboratório Nacional de Física de Israel, Philip Taylor, do Instituto de Materiais e Medidas de Referência, da Bélgica, e Robert Kaarls, do Comitê Consultivo para a Qualidade de Materiais, da Holanda.
Paralelamente ao congresso será realizada uma feira de serviços, equipamentos e instrumentos de uso laboratorial, de insumos, padrões, reagentes, além de material bibliográfico.

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